2025年8月15日，由全國顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標準化技術(shù)委員會組織的《粒度分析 激光衍射法》國家標準與相關(guān)標準及校準規(guī)范宣貫會在上海市計量測試研究院成功舉辦。澳譜特科技（上海）有限公司作為粒度分析領(lǐng)域的研發(fā)生產(chǎn)企業(yè)，特派核心技術(shù)團隊參會，與用戶深入討論標準內(nèi)容，旨在提升自身技術(shù)水平，推動行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

此次宣貫會聚焦于GB/T 19077 - 2024《粒度分析 激光衍射法》等國家標準。會議期間，參會人員認真聆聽來自上海市計量測試技術(shù)研究院等單位的標準主要起草人對各項標準的深度解讀。從GB/T 19077 - 2024《粒度分析 激光衍射法》的核心要點，到GB/T 41949 - 2022《顆粒 激光粒度分析儀 技術(shù)要求》對儀器性能的嚴格規(guī)范，再到JJF 1211 - 2008《激光粒度分析儀校準規(guī)范》的校準細節(jié)，細致記錄，深入思考，力求全面把握標準內(nèi)涵。

澳譜特科技應(yīng)用工程師在會上作了《動態(tài)光散射顆粒粒度測量方法及操作指南——國家標準解讀》的報告，詳細闡述了動態(tài)光散射法測量原理，納米顆粒測量的相關(guān)標準，測量裝置以及操作指南，并強調(diào)使用動態(tài)光散射法測量納米顆粒粒度時，首先應(yīng)檢查散射光信號和光強自相關(guān)函數(shù)是否符合要求，其次為了檢查結(jié)果是否受到高濃度效應(yīng)的影響，需要對樣品進行多次稀釋和測量，若樣品不能稀釋，則使用背散射法測量高濃度樣品粒度，以獲得高質(zhì)量的測量結(jié)果。

會議茶歇期間，澳譜特科技工程師對納米粒度及Zeta電位分析儀進行了深度講解。從儀器的核心工作原理，延伸至其在醫(yī)藥、材料等領(lǐng)域的多元應(yīng)用，再到產(chǎn)品在檢測速度、數(shù)據(jù)準確性上的顯著優(yōu)勢，都講解得清晰透徹。與會觀眾真切感受到澳譜特深厚的技術(shù)積淀與產(chǎn)品性能，現(xiàn)場咨詢不斷，反響熱烈。

此次參會，澳譜特科技不僅深入掌握了粒度分析激光衍射法的最新標準和技術(shù)動態(tài)，還與行業(yè)內(nèi)眾多專家、企業(yè)建立了良好的溝通渠道，為公司未來在粒度分析領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新和業(yè)務(wù)拓展奠定了堅實基礎(chǔ)。未來，澳譜特科技將繼續(xù)遵循相關(guān)標準，不斷優(yōu)化產(chǎn)品和服務(wù)，為推動粒度分析行業(yè)的發(fā)展貢獻力量。